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[供應]FIB測試SEM測試品牌,FIB測試SEM測試排名,一通檢測
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- 更新日期：2016-12-20 09:54:48
- 有效期至：2017-06-18
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FIB測試SEM測試品牌,FIB測試SEM測試排名,一通檢測
詳細信息
FIB測試SEM測試品牌，F(xiàn)IB測試SEM測試排名，一通檢測|深圳一通檢測技術有限公司
FIB測試，F(xiàn)IB檢測，
FIB 是英文 Focused Ion Beam的縮寫，依字面翻譯為聚焦離子束.簡單的說就是將Ga(鎵)元素離子化成Ga+， 然后利用電場加速.再利用靜電透鏡(electrostatic)聚焦，將高能量(高速)的Ga+打到指定的點. 基本原理與SEM類似，僅是所使用的粒子不同( e- vs. Ga +)FIB聚焦離子束是針對樣品進行平面、界面進行微觀分析。檢測流程包括：樣品制定、上機分析、拍照等，最后提供界面相片等數據。
主要用途：
1、電路修正， 用于驗證原型，改善bug，節(jié)省開支，增快上市時間。
2、縱面的結構分析可直接于樣品上處理，不需額外樣品準備。
3、材料分析-TEM樣品制備，用于精確定點試片制作，減低定點試片研磨所需人員經驗的依賴。
4、電壓對比、用于判定Metal(Via/Contact)是否floating。
5、Grain(晶粒)形狀大小的判定
SEM測試，SEM檢測。
1. 原理
SEM的工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結構有關，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉變?yōu)楣庑盘枺俳浌怆姳对龉芎头糯笃鬓D變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸?，顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了標本的表面結構。
2. 性能
設備能夠滿足可以觀察直徑為0～200mm（8〞wafer）的試樣。
放大倍率：×5～×300，000
設備能夠滿足可以觀察直徑為0～200mm（8〞wafer）的試樣。
放大倍率：×5～×300，000
深圳市一通檢測技術有限公司（簡稱TTS）是從事工業(yè)與消費產品測試、檢驗與驗證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗機構。實驗室已取得中.國合格評定國家認可委員會實驗室認可證書（CNAS ）、國家計量資質認定證書（CMA ）和國際運輸安全協(xié)會認證(ISTA )，實驗室依照國際標準ISO/IEC17025：2005《檢測和校準實驗室能力的通用要求》管理和運行，具備向社會出具公正性檢測報告的資格。
一. 環(huán)境可靠性檢測：1.其中氣候環(huán)境包含：高低溫試驗，交變溫濕熱（溫變1-2℃/min)，快速溫度循環(huán)試驗（溫變最快20℃/min），溫度沖擊試驗，高溫高濕試驗，恒定濕熱試驗，鹽霧腐蝕試驗(中性鹽霧、醋酸鹽霧、同加速乙酸鹽霧、交變鹽霧），防塵防水檢測（IP等級測試）（防塵試驗IP1X-6X、防水試驗IPX1-X8），IK等級測試、低氣壓試驗，高壓蒸煮試驗（HAST），人工汗液測試，氣體腐蝕試驗，耐焊接熱，沾錫性，UL94阻燃試驗，UV老化試驗（熒光紫外燈），太陽輻射試驗（氙燈老化、鹵素燈）等等；
2.其中機械環(huán)境包含：振動試驗（隨機振動，正掃頻振動，定頻振動），模擬汽輸車運試驗，碰撞試驗，機械沖擊試驗（半正弦波、方波、后峰鋸齒波），跌落試驗(1m和1.5m)，G值跌落，滾筒跌落試驗（0.5m和1m)，斜面沖擊試驗，堆碼壓力試驗，水平擠壓試驗，溫濕度+振動三綜合試驗，高加速壽命試驗（HALT），高加速應力篩選（HASS、HASA），插拔壽命試驗（插拔力、拔出力），鋼球沖擊試驗，按鍵壽命試驗，點劃壽命試驗，軟壓試驗、搖擺試驗，鉛筆硬度測試，耐磨擦測試，
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