應(yīng)力導(dǎo)向氫致開裂SOHIC測試 
NACETM0103-2003標(biāo)準(zhǔn) 
在應(yīng)力引導(dǎo)下，夾雜物或缺陷處因氫聚集而形成的小裂紋疊加，沿著垂直于應(yīng)力的方向（即鋼板的壁厚方向）發(fā)展導(dǎo)致的開裂稱為應(yīng)力導(dǎo)向氫致開裂。其典型特征是裂紋沿“之”字形擴(kuò)展。有人認(rèn)為，它也是應(yīng)力腐蝕開裂（SSCC）的一種特殊形式。 
SOHIC也常發(fā)生在焊縫熱影響區(qū)及其他高應(yīng)力集中區(qū)，與通常所說的SSCC不同的是SOHIC對鋼中的夾雜物比較敏感。應(yīng)力集中常為裂紋狀缺陷或應(yīng)力腐蝕裂紋所引起，據(jù)報道，在多個開裂案例中都曾觀測到SSCC和SOHIC并存的情況. 
評價標(biāo)準(zhǔn)： 
CCL（連續(xù)開裂長度）≤2%，DCL（不連續(xù)開裂長度）≤5%， 
TCL（總開裂長度）≤7%； 
氫鼓泡：單個試樣表面的氫鼓泡面積不超過試樣面積的1%，且任何一個氫鼓泡的直徑不超過1mm。 

還可以從事以下金屬腐蝕測試。 
SSC硫化氫應(yīng)力腐蝕： 
標(biāo)準(zhǔn)拉伸試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)彎梁試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)C型環(huán)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)雙懸臂梁試驗(yàn) 
標(biāo)準(zhǔn):NACETM0177-2005NACERM0175-2000ASTMG39-99 
GB/T4157-2006ISO15156-2001 
抗氫誘導(dǎo)裂紋試驗(yàn)HIC測試 
HIC清脆： 
裂紋敏感性比值CSR裂紋長度比值CLR裂紋厚度比值CTR 
標(biāo)準(zhǔn)：NACETM0284-2003NACERM0175-2000 
《管線鋼和壓力容器鋼抗氫致開裂評定方法》GB/T8650-2006 
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