深圳市禾苗分析儀器有限公司是集設(shè)計開發(fā)，生產(chǎn)銷售一體的現(xiàn)代化，專業(yè)化，規(guī)模化的企業(yè)。企業(yè)擁有一支高技術(shù)及凝聚力強的設(shè)計團隊，生產(chǎn)，隊伍，并聘請了經(jīng)濟學教授作為企業(yè)高級顧問，為打造世界品牌—禾苗分析HELEEXX熒光光譜儀提供了保障。旗下鍍層測厚儀器x2034d9n、鍍層分析儀等產(chǎn)品深受客戶喜愛。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司堅持走社會效益、經(jīng)濟效益與環(huán)境效益并重的企業(yè)發(fā)展之路，立足于商務服務行業(yè)，努力追求技術(shù)創(chuàng)新，不斷拓展服務領(lǐng)域，積極營造溫馨的文化氛圍，為您提供高性價比的RoHS檢測產(chǎn)品，并樹立禾苗分析禾苗HELEEX品牌形象。 延伸拓展 產(chǎn)品詳情：膜厚測試儀校準方法膜厚測試儀校準方法1儀器校零1．1將測量探頭壓在鐵基上（或不帶涂層的測量體上），滄州歐譜再輕按一下校零鍵ZERO進行校零。在按ZERO鍵時，測量探頭在鐵基上不要晃動。同時要注意，只有在按完ZERO鍵后，才能提起探頭，否則，校零不正確。1．2將測量探頭提起（或不帶涂層的測量體上），觀察鐵基上的測量值，若測量值在0附近，說明校零成功，否則，應得新校零。2儀器校滿度2．1根據(jù)要測量的涂層厚度，選擇適當?shù)臉藴誓てM行滿度校準。2．2先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。C2．3再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。2．4為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

   深圳市禾苗分析儀器有限公司的誠信、實力和產(chǎn)品質(zhì)量獲得業(yè)界的認可。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導和業(yè)務洽談。更多詳細信息請訪問：